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GBW13951納米臺(tái)階高度質(zhì)控樣,GBW13951納米臺(tái)階高度標(biāo)準(zhǔn)值
發(fā)布時(shí)間：2019/11/7 9:09:47 瀏覽次數(shù)：950
GBW13951納米臺(tái)階高度質(zhì)控樣,GBW13951納米臺(tái)階高度標(biāo)準(zhǔn)值
保存條件 在潔凈環(huán)境中室溫保存 使用注意事項(xiàng) 避免陽光直射，防止撞擊。使用過程中注意不能用手觸摸硅基片，特別是標(biāo)記用來掃描校準(zhǔn)的區(qū)域，要用合適的鑷子來夾取。觸控型的探針進(jìn)行掃描時(shí)，應(yīng)避免使用小探針時(shí)加載過大壓力而造成劃傷。例如在半徑小于等于1 μm的探針上加載超過0.1mN的壓力時(shí)會(huì)劃傷硅片表面。 特征形態(tài) 固態(tài) 基體
主要分析方法 絕對測量法 規(guī)格 1個(gè)/盒 量值信息
標(biāo)準(zhǔn)值 相對不確定度(%) 單位 CAS 備注 臺(tái)階高度 200 1.2 標(biāo)稱值（nm）
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