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GBW13965二氧化硅納米薄膜厚度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì),GBW13965二氧化硅納米薄膜厚度標(biāo)準(zhǔn)樣
發(fā)布時(shí)間：2019/11/27 6:33:43 瀏覽次數(shù)：1027
GBW13965二氧化硅納米薄膜厚度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì),GBW13965二氧化硅納米薄膜厚度標(biāo)準(zhǔn)樣
英文名稱 CRMs for Thickness of SiO2 Nanosized Thin Layers 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)證書英文
應(yīng)用領(lǐng)域 物理學(xué)與物理化學(xué)/光學(xué)特性 保存條件 貯存在陰涼干燥的室溫環(huán)境條件下 使用注意事項(xiàng) 運(yùn)輸過(guò)程中必須保持包裝的完整，使用過(guò)程中必須保持樣品表面清潔 特征形態(tài) 固態(tài) 基體
主要分析方法 掠入射X射線反射測(cè)量和橢偏測(cè)量# 規(guī)格 每盒1片 量值信息
標(biāo)準(zhǔn)值 不確定度 單位 CAS 備注 二氧化硅納米薄膜厚度 9.92 0.40 nm
